首先，他們的測(cè)試方法不同：
單元測(cè)試屬于白盒測(cè)試；
集成測(cè)試屬于灰盒測(cè)試的范疇；
系統(tǒng)測(cè)試屬于黑盒測(cè)試。
其次，他們的考察范圍不同，也就是他們測(cè)試的重點(diǎn)不同：
單元測(cè)試主要測(cè)試單元內(nèi)部的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、邏輯控制、異常處理等等；
集成測(cè)試主要測(cè)試模塊之間的接口和接口數(shù)據(jù)傳遞的關(guān)系，以及模塊組合后的整體功能；
系統(tǒng)測(cè)試主要測(cè)試整個(gè)系統(tǒng)相對(duì)于需求的符合度。
再次，他們的基準(zhǔn)不同：
單元測(cè)試評(píng)估的主要是邏輯覆蓋率；
集成測(cè)試評(píng)估的主要是接口覆蓋率；
系統(tǒng)測(cè)試評(píng)估的是測(cè)試用例對(duì)需求規(guī)格的覆蓋率。